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型號:BSX240
產品時間:2023-11-10
簡要描述:
BSX240誤碼率測試儀是實現*性的較快途徑。 這個 BERT 接收機測試解決方案具有*功能,消除了接收機測試的復雜性,并給 Gen3/4 設計帶來置信度。
BERTScope BSX 系列誤碼率測試儀引入了能夠支持第四代及以上新興標準的接收機測試平臺。通過增加強大的數據處理和內置發射機均衡技術,BERTScope 支持基于協議的握手功能,并與被測器件 (DUT) 同步,包括交互式鏈路訓練,支持最高 32 Gb/s 的數據速率。BSX 系列縮短了調試物理層和鏈路訓練問題所需的時間,為滿足各種標準提供了較快速的途徑。
歐盟客戶通知
本產品尚未更新以符合 RoHS 2 指令 2011/65 / EU 要求,且將不會發貨至歐盟。在 2017 年 7 月 22 日前,客戶可以通過歐盟市場的庫存購買產品直至庫存SHOU罄。泰克致力于為您提供所需的解決方案。請聯系您的當地銷售代表以獲取進一步幫助,或確定是否有可用的替代產品。泰克將繼續為全球范圍內仍享受質保支持的產品提供服務。
主要性能指標
主要特點
應用
智能內存排序
由于面向位的內存排序模式和協議識別內存排序模式,另外由于能夠根據用戶自定義檢測器碼型匹配情況推進排序器,BSX 系列允許用戶創建自己的基于協議的碼型和握手序列。
碼型內存排序器
BSX系列內存排序器可以靈活地間接接入碼型內存。碼型內存可以支持兩級循環嵌套,每個循環高達100萬次迭代。用戶可以通過多種手段控制與測試設備的握手。為進一步簡化編程,提高內存效率,各個碼型段可以是大于128位的任意尺寸。內存序列推進可以由軟件控制、外部信號或檢測器碼型匹配來控制、外部信號或檢測器碼型匹配來控制,用戶可以通過多種手段控制與測試設備的握手。
內存排序器模式
為了能讓用戶更靈活、更簡便地創建和檢測碼型和序列,我們提供了兩種不同的排序器模式,兩種模式都支持上面介紹的環路和序列推進功能:
用戶可以以“自然”格式輸入內存數據。注意,可以實現排序器狀態之間的跳轉,而不會出現數據“縫補”問題,因為排序器會保持加擾 /DC 均衡狀態。
檢測器碼型匹配
BSX 系列支持選配的用戶自定義檢測器碼型匹配功能,可以用來推進發生器排序器狀態。這種功能實現了靈活的激勵/響應編程能力,支持調試協議和專有協議。與內存排序器一樣,碼型匹配支持兩種模式:
協議塊/符號過濾
支持的協議植入了時鐘補償(跳躍)和碼組/符號過濾功能,獨立時鐘操作通常要求這些功能。檢測器中的協議過濾撥碼會在原始碼流與BER測量過濾后的碼流之間切換。
碼型排序器編輯器
BSX 系列引入了一種新的碼型編輯器,這種碼型編輯器能夠支持面向位的碼型和協議識別碼型,并支持碼型序列創建功能。
序列編輯器
在協議識別排序器模式中,編輯器將發生器碼型內存中的符號協議消息轉換成協議特定數據塊(沒有任何變換)。隨后由協議特定內存排序器處理這些數據塊。這簡化了復雜協議數據流的生成過程。
排序器
多域觀測
眼圖一直作為系統性能簡單、直觀的表現,但是很難和BER性能聯系起來,因為測試儀器從根本上有很大的差別。示波器測量的眼圖是由較少的測試樣本組成,不容易發現一些罕見偶發的事件。誤碼儀 (BERT) 能夠對每一個比特計數,因此能夠提供基于很大量數據集樣本的測試,但是測試結果缺乏對信息的直觀的表征和故障排查。
BERTScope 結合兩者的優勢,允許快速、簡單的觀測眼圖,并比傳統的眼圖測試樣本多至少多兩個數量級。可以按照上圖的例子中所示的那樣,通過簡單的移動 BERT 的采樣點,將光標放在感興趣的地方,使用強大的誤碼分析能力,獲得更多更深入的信息。例如,檢查碼型對當前上升沿影響的敏感程度。或者,使用一鍵式 BER Contour 測量,檢驗是否性能問題是有界的,或者可能會導致哪些故障。在每一個例子里,測試樣本碼型可以是 231-1 的偽隨機碼,可以幫助建立模型或者故障定位。
數據豐富的眼圖
正如前面所示,BERTScope在測量數據樣本深度方面與傳統的眼圖測試有著巨大的差異。這個差異意味著你能看到更加真實的情況,無論是什么樣的系統,更多低概率事件將會隨著每次長數據碼型運行而出現,不管是有隨機噪聲,還是從VCO引起的隨機抖動。通過一鍵式的BER輪廓、抖動峰值和Q-因子測試,能夠增加對系統更深層次的認識,增加對設計的信心。
深度模板測試
由于能夠改變采樣深度,可以非常方便地在深測量與淺測量之間移動,前者可以更準確地查看實際系統性能,后者則與采樣示波器配套使用。下面所示的測量來自光接收機的眼圖。通過把 BERTScope采樣深度設置成僅3000個波形,BERTScope在短短1秒鐘內生成中間所示的圖形。測得的20%的模板余量與采樣示波器上進行的同一測量準確相關。下方圖形顯示了同一設備生成的眼圖,其使用*性廓線在1 x 10-6的BER下測得。這里的模板余量下降到17%。
眼圖測試樣本深度優勢至少是模板測試的10倍。不像其他誤碼儀提供的“偽”模板測試那樣,BERTScope能對模板邊沿的每一個樣點進行采樣,包括在眼圖之上和之下的區域。不僅如此,每一個點都能看到之前從未看到過的深度。這意味著既是使用工業標準化模板或自定義模板持續測試幾秒,也能確保被測設備沒有隱藏的問題。
為行業標準提供高精度的抖動測試
無論測試碼型的長短,靠推算得到抖動結果得方法是不能達到最高抖動測量精度的。BERTScope 能快速測量誤碼率水平為 1x10-9(高速信號可達 1x10-10),或者等待儀器直接測量到 1x10-12水平。對于這兩種測試方法,BERTScope 的一鍵式測量都嚴格符合 MJSQ 定義的抖動測試方法,并且 BERTScope 中內部的 delay 控制是誤碼儀中最HAO的,可以確保抖動測試的精度。可使用內置的抖動計算模型,包括 TJ(總抖動)、RJ(隨機抖動)、DJ(確定性 抖動),或者將測試數據輸出,進行自定義的抖動建模分析。
BSX 系列的低固有 RJ 可以同時滿足 802.3ba 的 VECP (垂直眼圖閉合代價)和 J2/J9 校準,并提供所需的重要余量,全面檢定100G 以太網芯片。
靈活的時鐘模式
BERTScope非常有特色的時鐘產生路徑為現實世界中不斷涌現出的設備提供了靈活的測試方案。無論是電腦插卡還是硬盤,通常都需要提供子速率(sub-rate)系統時鐘,例如PCI Express中100MHz的時鐘。為了能使被測系統正常工作,需要提供差分的系統時鐘,而且時鐘的幅度、偏置各有不同;BERTScope內部提供靈活的分頻系數,其靈活構架可以完成各種時鐘的生成。
擴頻時鐘(SSC)通常用于串行系統中,以減小EMI的干擾。BERTScope可以調節的SSC的調制幅度、頻率和調制的輪廓,如三角波、正弦波等,因此允許測試任何一種使用SSC技術的*性標準。還可使用額外的調制器和信號源,在高達4 MHz的頻率上生成高幅度、低頻率的正弦抖動(SJ)的時鐘。
可編程的基準時鐘倍頻器
為進一步增加時鐘輸入的靈活性,BSX 系列提供了一個通用基準時鐘倍頻器,用戶可以為10 MHz ~ 200 MHz 的輸入基準時鐘頻率范圍一個整數時鐘倍率。時鐘輸出頻率以 時鐘合成器的頻率范圍為界,在 BSX 系列中是 1 GHz ~ 16 GHz。其為許多常用標準提供了預先定義的倍率。其為許多常用標準提供了預先定義的倍率。
處理閉合的眼圖
隨著通道中電信號的數據率越來越快,通道的損耗經常導致信號在Rx端的眼圖閉合。在實際的系統中,常使用 Equalization(均衡)補償通道的損傷,以得到“張開的眼圖”。泰克提供了強大的工具來幫助設計者檢定和測試這些系統中使用的接收機和發射機組件是否滿足標準。
圖形用戶界面以合理的容易跟蹤的方式表示控制功能,保持了BERTScope的一貫風格。響應的時域表示顯示了階權重設置的影響。頻域 Bode 圖顯示了濾波器怎樣補償通道損耗。
對于接收機測試,BSX 系列內置 4 階預加重/去加重功能,能夠在儀器數據速率下運行,在 BSX320 型號中達到 32 Gb/s。此外,快速控制輸出均衡功能可以滿足最嚴格標準的鏈路訓練響應時間要求。
PatternVu
PatternVu選件是一套軟件實現的FIR濾波器,能夠在眼圖顯示之前使用。在使用均衡的Rx系統中,PatternVu能夠觀測、測量在Rx端均衡之后、判定之前信號的眼圖,即能將均衡的影響包含在測試結果中。均衡器最多允許有32階(tap),并且可以選擇每個UI的階(tap)分辨率。
PatternVu
PatternVu還包括CleanEye功能,即碼型固定的、經過平均處理后的眼圖,可以去除眼圖的非確定性抖動分量。CleanEye能夠在存在大量隨機抖動的情況下,清晰地看到ISI對系統的影響。
單次波形數據值輸出是PatternVu的一個部分,能夠顯示所捕獲的固定碼型中的任意一個比特,非常類似實時示波器中的單次捕獲功能。一旦被捕獲,波形數據能夠以多種格式輸出,以便使用其他工具進行分析。
增加時鐘恢復
泰克CR125A、CR175A和CR286A產品提供了靈活的*性時鐘恢復方案。許多標準的抖動測試要求使用環路帶寬的時鐘恢復。使用不確定或未知的環路帶寬將帶來錯誤的抖動測量。泰克最XIN的時鐘恢復儀器能夠為各種標準測試提供簡單、準確的測量。
直觀用戶界面提供了對所有操作參數的簡單控制。*的環路回饋視圖描繪了環路帶寬的特性—該圖是真實測量的結果,而不是數據設置過程。
BERTScope CR的使用不受BERTScope測量的限制。既可以配合其他儀器使用,如采樣示波器或誤碼儀等,也可以和其他已有的儀器一起使用。通過把這些多功能儀器與現有的儀器結合起來,您可以實現標準測量。
此外,本地內置顯示器和BERTScope用戶界面中均提供了鎖定狀態和測得參數,如碼型邊沿密度和相位誤碼,可以實時查看輸入信號特點和CR性能。
顯示和測量 SSC 調制
擴頻時鐘(SSC)在最XIN的串行標準中經常使用到,以減小 EMI 干擾,例如:SATA,PCI Express 和下一代 SAS。泰克 CR 家族支持擴頻時鐘的恢復,能夠顯示和測量 SSC 調制波形。包括了、最小頻率偏差(ppm 或 ps 為單位)、調制變化率(dF/dT)和調制頻率等自動化測量項目。也包括了數據速率的顯示以及簡單易用的垂直、水平光標。
SSC 波形測量
增加抖動分析
泰克CR125A、CR175A或CR286A分別與選項12GJ、17GJ和28GJ及采樣示波器或BERTScope相結合,實現了1.2 – 11.2 Gb/s可變時鐘恢復、占空比失真(DCD)測量和實時抖動頻譜分析。抖動頻譜顯示頻率范圍從200Hz到90MHz,可以使用光標進行測量。可以使用用戶可設置的頻率限定進行抖動的帶限測量(上圖例子中是PCI Express 2.0預設的帶寬限制和抖動測量)。
抖動頻譜測量。
消除接收機測試中的壓力
隨著網絡變化,接收機測試挑戰也在變化。雖然誤碼測試和接收機靈敏度之類的測試非常重要,但在現實世界中,必須考慮10Gb/s之類的背板系統和其他高速總線的接收機抖動容限性能。壓力眼圖測試(Stressed Eye Testing)現在在許多的行業規范中變得越來越常見。另外,工程師可以利用壓力眼圖測試來發現接收機性能極限,用以檢查系統在設計和生產過程中的余量。
像進行PCI Express 2.0這類的串行總線*性接收機壓力測試,通常需要用到多臺DU立的儀器和設備,不得不花幾個小時去設置儀器、連接被測設備。通過BERTScope一臺儀器,以及測試向導來控制所有的經校準的壓力源,非常方便地進行接收機壓力測試 - 這些都是在一臺儀器中完成的。該方案不需要外部電纜、混頻器、耦合器、調制器,減少了校準過程,大大簡化了壓力測試的校準和測試。
壓力眼圖視圖
靈活產生信號損傷
BERTScope內置高質量、經校準的各種信號損傷源,包括RJ、SJ、BUJ和SI。
ISI是許多標準中常見的信號損傷類型。BSA12500ISI差分ISI板提供了可變的鏈路長度,而不受開關頻帶空段和異常事件的影響。
靈活產生壓力損傷
許多標準要求測試在不同頻率、不同幅度、不同調制的SJ對Rx的影響。BERTScope內置的抖動容限功能通過用戶自定義的容限模板,自動完成這項測試。同時,BERTScope還提供了許多標準的測試庫供用戶使用。
內置抖動容限功能
BERTScope 碼型發生器產品
BERTScope碼型發生器提供了完整的PRBS碼型發生功能,支持標準和自定義碼型。
STR選項可以產生集成的、經校準的壓力信號,可以替代傳統多儀器、手動校準的方案。該系列產品可以用于系統自帶BER測量的案例,如DisplayPort;或配合傳統誤碼儀以增加產生帶壓力碼型的能力。
壓力眼圖測試選項
碼型捕獲
對未知的輸入數據有幾種處理方法。除了上面所討論的實時數據分析之外,所有 BERTScope 分析儀都有一個非常有用的標配功能 - 碼型捕獲。該功能允許用戶重復碼型的長度,然后允許分析儀使用檢波器的 512 Mb RAM 內存抓取傳入數據。這些數據可以用作新的檢波器參考碼型,可以進行編輯和保存以便未來使用。
碼型捕獲
帶壓力眼圖的碼型發生器
碼型發生器帶壓力眼圖功能提供了下述特性:
幅度和 ISI 損傷
對 ISI,外部增加 ISI:例如,長的同軸電纜,或者 4 階 Bessel-Thompson濾波器,-3dB 點等于 0.75 數據率
對需要模擬電路板耗散的應用,BSA12500ISI 差分 ISI 生成板提供模擬電路板走線損耗
抖動測量
數據速率在 Gb/s 的信號其眼寬就幾百個皮秒,甚至更少。因此準確的抖動測量是控制抖動預算的重要部分。BERTScope 提供兩套工具來完成這些重要抖動測試。
物理層測試套件使用廣泛認可的 Dual Dirac 方法測試總體抖動 (Total Jitter) 和對總體抖動的分離,隨機抖動 (RJ)、確定性抖動 (DJ)。BERTScope 采用的是誤碼儀的方法采集數據,樣本深度遠大于示波器測試抖動時所采集的樣本深度,并很少采用推算的方法測量抖動。從根本上講,這種方法的測試精度比高度依靠推算的方法的精度要高很多。
MJSQ 標準 Dual Dirac 抖動測量。
選配的抖動分離及定位 (Jitter Map) 是 BERTScope 上最XIN的抖動測量套件。該套件提供了復雜的分析子集,除了 RJ 和 DJ 之外,還包括了許多更高速的標準*性測試中定義的抖動測量。抖動分離及定位 (Jitter Map) 能在長碼型上(例如 PRBS31)進行抖動測量和分離,也支持實時在線數據抖動分析,*次能夠在較短的同步數據碼型上運行(需要實時數據分析選件)。
圖:抖動分離及定位。
主要特性包括:
抖動峰值和BER輪廓測量的實時數據
靈活的外部抖動接口
靈活的外部抖動接口包括下述特性:
內部的 RJ、BUJ 和外部高頻抖動輸入合成幅度 0.5UI,合成抖動中的每一項幅度 0.25UI。可以使用后面板低頻抖動輸入增加額外的抖動;外部低頻抖動、10 MHz 以下的內部低頻 SJ、PCIe LFRJ 和 PCIe rSSC(使用選項 PCISTR)之和限于 1.1 ns。這些限制對 XSSC 選項的相位調制 (PM) 無效。
抖動損傷
有界非相關性抖動(BUJ):
BUJ 速率 | 濾波器 |
---|---|
100 – 499 | 25 MHz |
500 – 999 | 50 MHz |
1,000 - 1,999 | 100 MHz |
2,000 | 200 MHz |
隨機抖動
正弦曲線抖動
調制類型 | 內部 SJ 頻率 | 內部 SJ 幅度 |
---|---|---|
相位調制 | 10 Hz ~ 4 MHz | 最高 19200 UI ≥11.2 Gb/s |
低頻 SJ(可選擇調制器1) | 1 kHz ~ 100 MHz | 最高 1000 ps < 22.4 Gb/s 最高 270 ps 2 10 - 28.5 Gb/s 最高 130 ps 10 - 32 Gb/s |
高頻 SJ | 100 MHz ~ 1000 MHz | 0.5 UI 3 |
SJ 可以從 0 調節到大于等于表中范圍的水平。范圍在高調制速率和/或位速率下會減小。請參閱擴頻時鐘和相位調制以了解更多 PM 功能詳細信息,以及正弦曲線抖動 (SJ)以了解更多 SJ 功能詳細信息。
1范圍可以在 1100 ps、270 ps 和 130 ps 之間選擇;范圍越低,本底抖動越低。
2完整的 SJ 范圍為 270 ps,有 RJ 或 BUJ 時,范圍下降到 220 ps。
3HFSJ、BUJ、EXT、HF 抖動與 RJ 總和 ≤ 0.5 UI
測試接口卡
最后,我們提供了一個解決方案,來解決在高速線路卡、主板和實時業務上進行物理層測量的問題,那就是 BERTScope 在線數據分析選項。通過以全新方式使用雙判定點結構,該儀器能夠進行參數測量,如抖動、BER 輪廓和 Q 因子,以及標準中要求時鐘信號的眼圖和模板測量。可以增加抖動定位及分離選項,在在線數據上查看更多層抖動分解。您不會再因為碼型未知、不可預測或涉及速率匹配字插入而感到無所適從。現在調試變得異常簡便,只需一鍵操作就能進行物理層測試,為您提供*的視角。
用戶軟件界面
用戶界面把可用性提升到全新高度:
UI設置界面
獨立視圖中含有碼型編輯器、碼型段編輯器和碼型排序器,要求用戶提供分辨率最低為1280 x 1024的VGA兼容監視器。
碼型和序列編輯器
物理層測試選項
提供了下述物理層測試選項:
實時數據分析選項
實時數據選項主要用于測試系統在線時數據傳輸性能。該選項可用于測試系統傳輸的碼型未知或非重復的情況,還包括為匹配時鐘速率而在數據流中插入空閑位的情況。也可適用于探測線卡信號等等。
這個選項使用兩個前端判決電路中的一個,通過放置在眼圖中心,判斷數據是 0 還是 1。另外一個用于探測眼圖外部以決定參數性能。這種方法對物理層問題十分有效,但并不能識別由于協議引起的邏輯層問題,也就是預計是1、發送的卻是0的情況。
實時數據選項可以能夠使得在線數據進行 BER 輪廓、抖動峰值和抖動分離及定位和 Q 因子的測試。眼圖測試可以不需要該選項,只需要提供外部的時鐘即可。
實時數據分析選項需要物理層測試選項,必須使用全速率時鐘。
PatternVu 均衡處理選項
PatternVu1為BERTScope 增加了幾個強大的處理功能:
濾波器的參數可用通過對 FIR 濾波器中一系列階的權重調節而改變。至多 32 個階,間隔從 0.1 UI 到 1 UI,可準確調整濾波器的形狀。FIR 濾波在任何重復碼型下有效,碼型長度上限32,768位。
1PatternVu 以900 Mb / s 或更高的數據速率運行。
誤碼分析
誤碼分析是一些列和誤碼發生情況緊密聯系在一起的的視圖,能夠簡單、快速的發現潛在的問題。可以非常方便的在眼圖的某個區域內放置 BERTScope 采樣點,探測在位置上的碼型靈敏度。例如,直接觀測碼型是否會導致信號邊沿時刻的提前或滯后。
BERTScope 系列產品標配了許多視圖:
條狀圖:比特位和突發誤碼率的條狀圖。
條狀圖顯示了誤碼和誤包隨時間的變化。例如在做溫度循環實驗時,可以發現系統故障出現的規律。
碼型靈敏度視圖時一個強大的工具,用以檢查錯誤事件和碼型之間的關系。能夠顯示出哪種碼型序列有最多的問題,支持 PRBS 和用戶自定義碼型。
前向誤碼糾錯仿真選項
BERTScope因為采用了專LI的誤碼定位技術,在測試中可以確定每一個誤碼發生的位置。通過用假設誤碼糾錯器,仿真內存塊典型的糾錯碼,例如Reed-Solomon結構,以通過非相關數據通道的誤碼率測試,確定找到合適的FEC方法。用戶可以設置誤碼糾錯的力度,交織的深度以及確保符合流行的糾錯硬件結構。
二維誤碼映射
通過發現到的誤碼,分析繪制出二維誤碼分布圖。誤碼分布基于幀的大小或者復用器的寬度,分析出誤碼是否容易在幀的某個位置上,或者連接到復用器的并行總線中的某一個特定的比特位上。 這個可視化的工具能夠發現其他分析方法所無法觀測到的誤碼。
特點 | 說明 |
---|---|
實時分析 | 連續 |
誤碼記錄容量 | 2 GB |
誤碼事件/秒 | 10,000 |
突發長度 | 32 Kb |
BSX240誤碼率測試儀抖動容限模板選項
許多標準要求測試在不同頻率、不同幅度、不同調制的SJ對Rx的影響。BERTScope內置的抖動容限功能通過用戶自定義的容限模板,自動完成這項測試。同時,BERTScope還提供了許多標準的測試庫供用戶使用。
可調節的測試參數
另外還包括在每一個選擇點上進行測試的能力,以及數據可以導出為截圖或CSV文件。
誤碼位置分析調試
強大的誤碼分析功能 – 在這個例子中,眼圖測試結果和BER聯系在一起,發現并解決了內存控制芯片的一個問題。左上角的眼圖顯示了在信號在十字交叉區域出現比正常眼圖所少見的特征。接著將BER判定點移動到該區域上仔細勘察。Error Analysis 結果顯示出問題特征和碼型中第24個標記位有一定的聯系。進一步調查發現和IC內部的時鐘分頻有關;系統時鐘是輸出數據速率的24分頻。重新設計芯片中增大了對時鐘鏈路的隔離后,就能得到右下角所示的干凈眼圖。
誤碼分析能力實例
抖動分離及定位 (Jitter Map) 選項
抖動分離及定位(Jitter Map)1用長碼型抖動三角形測量法自動抖動分離。抖動分離及定位(Jitter Map)擴展了以BER為基礎的抖動分離,除了按照Dual-Dirac方法測量總體抖動(Tj)、隨機抖動(Rj)和確定性抖動(Dj),還可以將確定性抖動分析為更加詳細的抖動類型。該選項也能測量和分離極長碼型上的抖動,例如PRBS31,假設系統受限運行在較短的同步數據碼型上。
該選項的特點包括:
1抖動分離及定位要求數據速率高于900 Mb/s。
2SRJ和F/2抖動運行速率最高11.2 Gb/s (所有配置)
帶壓力實時數據選項
BERTScope帶壓力實時數據選項幫助工程師最SHI時的數據上增加各種各樣的壓力,以模擬在現實的環境中,觀察被測系統的響應。使用帶壓力的實時測試數據能夠測量系統性能的邊界極限,增加系統設計的信心。
BSX240誤碼率測試儀符號過濾選項
對插入到碼流中的時鐘補償符號數量不確定的輸入數據流,符號過濾功能支持在輸入數據流上進行異步BER測試,包括抖動容限測試。
泰克經過 SRI 質量體系認證機構進行的 ISO 9001 和 ISO 14001 質量認證。 | |
產品符合 IEEE 標配 488.1-1987、RS-232-C 及泰克標配規定和規格。 |