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Keithley6517B靜電計(jì)低電平靈敏儀器
特點(diǎn) | 優(yōu)勢(shì) |
| 超低噪聲（6430 為 0.4fA p-p ，6517B 和 6514 <1fA） | 確保對(duì)設(shè)備和材料研究中常見的超低電流實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的測(cè)量。 |
| 高達(dá) 10 16 ? 的電阻測(cè)量 (6517B) | 準(zhǔn)確測(cè)量超高電阻材料和絕緣體。 |
| 遠(yuǎn)程預(yù)放大器可以位于信號(hào)源 (6430) | 允許直接或短暫連接到信號(hào)源，限度地減少電纜噪聲等噪聲源。 |
| 低輸入端壓降 | 消除影響低電流測(cè)量精度的誤差。 |
| 內(nèi)置 ±1kV 電壓源，提供掃描功能 (6517B) | 簡(jiǎn)化了執(zhí)行泄漏、擊穿和電阻測(cè)試，以及對(duì)高電阻率材料執(zhí)行體積 (?-cm) 和表面電阻率 (?/square) 測(cè)量的過程。 |
| 適用于測(cè)量試樣材料的體積和表面電阻的選配 8009 型電阻率測(cè)試盒 (6517B) | 防止您接觸潛在危險(xiǎn)電壓 — 打開測(cè)試盒蓋子時(shí)自動(dòng)關(guān)閉儀器的電壓源。 |
| 即使在低電平信號(hào)上也能實(shí)現(xiàn)高測(cè)量速度 | 支持更快的低電平元器件測(cè)試。 |
| 可編程數(shù)字 I/O 和內(nèi)置接口 | 簡(jiǎn)化構(gòu)建自動(dòng)化元器件測(cè)試系統(tǒng)的過程。 |
P7633 33 GHz 50 Ω / 225 Ω 0.25/0.5/1/2/4（同軸） 1.25/2.5/5/10/20 (P76TA) ±5 V (DC + pk AC) - US $32,900
TTR503A 100 KHz - 3 GHz 兩個(gè)端口，N 型母頭連接頭 >122 dB - US $10,300
TTR506A 100 KHz - 6 GHz 兩個(gè)端口，N 型母頭連接頭 >122 dB - US $13,700
RSA503A 9 kHz-3.0 GHz 40 MHz 100 μs 2.99 kg (6.6 lb) with battery 70 dBc - US $7,160
RSA507A 9 kHz-7.5 GHz 40 MHz 100 μs 2.99 kg (6.6 lb) with battery 70 dBc - US $12,000
RSA513A 9 kHz-13.6 GHz 40 MHz 100 μs - 70 dBc - US $18,900
RSA518A 9 kHz-18.0 GHz 40 MHz 100 μs - 70 dBc - US $22,300
RSA603A 9 kHz-3.0 GHz 40 MHz 100 μs 70 dBc - US $7,160
RSA607A 9 kHz-7.5 GHz 40 MHz 100 μs 70 dBc - US $12,000
RSA5103B 1 Hz - 3 GHz 25 MHz、40 MHz、80 MHz、125 MHz 和 165 MHz 0.434 μs -80 dBc - 配置與報(bào)價(jià)
RSA5106B 1 Hz - 6.2 GHz 25 MHz、40 MHz、80 MHz、125 MHz 和 165 MHz 0.434 μs -80 dBc - 配置與報(bào)價(jià)
RSA5115B 1 Hz - 15 GHz 25 MHz、40 MHz、80 MHz、125 MHz 和 165 MHz 0.434 μs -80 dBc - 配置與報(bào)價(jià)
RSA5126B 1 Hz - 26.5 GHz 25 MHz、40 MHz、80 MHz、125 MHz 和 165 MHz 0.434 μs -80 dBc - 配置與報(bào)價(jià)
RSA7100A 16 kHz – 14/26.5 GHz 320/800 MHz 700 ns 65 dBc - 配置與報(bào)價(jià)
PA1000 1 0.04% 讀數(shù) + 0.04% 范圍 600 VRMS 20 ARMS 直流到 1 MHz 配置與報(bào)價(jià)
PA3000 1月4日 0.04% 讀數(shù) + 0.04% 范圍 600 Vrms CAT II (2000Vpk) 30 Arms 直流到 1 MHz US $7,250
4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 對(duì)于兩端和三端設(shè)備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：4200A-SCS 參數(shù)分析儀 (2) 4200-SMU 模塊 (1) 4200-PA 前置放大器 (1) 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備
4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件 "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 對(duì)于高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：
4200A-SCS 參數(shù)分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備"
4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 對(duì)于功率設(shè)備、高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 設(shè)備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：對(duì)于功率設(shè)備、高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 設(shè)備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：
4200A-SCS 參數(shù)分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(2) 4210-SMU
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備"
4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 "用于使用* CMOS 技術(shù)套件進(jìn)行復(fù)雜的 NBTI 和 PBTI 測(cè)量 4200-BTI-A 包括： (1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊
(2) 4225-RPM 遠(yuǎn)程前置放大器/開關(guān)模塊
自動(dòng)化檢定套件 (ACS) 軟件
超快 BTI 測(cè)試項(xiàng)目模塊
Keithley6517B靜電計(jì)低電平靈敏儀器電纜"
BSX125 1 12.5 Gb/s 128/2 - 配置與報(bào)價(jià)
BSX240 1 24 Gb/s 128/2 - 配置與報(bào)價(jià)
BSX320 1 32 Gb/s 128/2 - 配置與報(bào)價(jià)
CR125A 時(shí)鐘恢復(fù)儀器 12.5 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
CR175A 時(shí)鐘恢復(fù)儀器 17.5 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
CR286A 時(shí)鐘恢復(fù)儀器 28.6 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
PED3201 1 通道誤碼檢測(cè)器 32 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
PED4001 1 通道誤碼檢測(cè)器 40 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
PED3202 2 通道誤碼檢測(cè)器 32 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)